Licitaciones de Microscopios

Adquisición, implantación y explotación de un Microscopio Electrónico de barrido emisión de campo (FESEM) con haz de iones enfocados (FIB) y sistema crio para trabajar con muestras congeladas.

Subministrament d'una càmera tipus Load-Lock amb entrada simultània de mostres i sputtering per a ser acoplada a la plataforma de Buit-Xps-Reactor-Microscopia del Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona de la UPC

Suministro de un microscopio de efecto túnel de baja temperatura con criostato de ciclo cerrado

Actualización del software para el microscopio Axio Observer Z1 de la marca ZEISS Financiación FAS CSIC 2020-21 con destino al Instituto de Investigaciones Biomédicas Alberto Sols

suministro e instalación de láser diodo de 405nm para un microscopio confocal leica tcs sp5 (leica) y microscopio invertido de fluorescencia automático adaptado para experimentos con células o pequeños organismos vivos para la unidad de microscopia

Lote 1: o Caracterización estructural y química con resolución atómica de materiales mediante la corrección de aberraciones tanto en la lente condensadora en la sonda (cañón) como en la lente de objetivo (doble corrección). o Caracterización con resolución atómica en modo TEM, STEM, EDX e EELS. o Adquisición y reconstrucción mediante Tomografía electrónica de la morfología y composición 3D de las nanoestructuras o Obtención de espectros de pérdida energética de los electrones en condiciones de alta resolución energética y espacial. o Obtención de mapas de composición 2D y 3D mediante espectroscopía EDX. Lote 2: o Observación de muestras mediante el haz de iones y electrones con una alta resolución tanto espacial como energética del haz para poder visualizar detalles nanométricos. o Preparación de muestras/lamelas para (S)TEM de distintos materiales y nanoestructuras con alta precisión. Para cumplir este requisito, el equipo deberá tener un cañón de electrones de alta resolución para el posicionamiento y control del proceso, así como un cañón de iones que permita adelgazar las muestras en un alto rango de voltajes e intensidades, desde alto voltaje y alta intensidad para procesos de adelgazamiento rápidos y/o masivos, hasta bajo voltaje e intensidad para poder eliminar las zonas amorfizadas durante el ataque a altos voltajes y tener una calidad final de la lamela óptima. o Depósito controlado de Carbono (C) y Tungsteno (W). Se requerirán al menos dos inyectores (C y W) para poder realizar los recubrimientos protectores de las estructuras a adelgazar, así como para poder pegar estas a las rejillas (S)TEM. o El sistema debe permitir la preparación de lamelas para (S)TEM con una alta precisión, control, calidad final y un alto grado de automatización. o El sistema debe permitir la extracción de las lamelas y un posicionamiento preciso de éstas en las rejillas portamuestras (S)TEM mediante nanomanipulador.

Suministro de microscopio quirúrgico para el Servicio de Neurocirugía del Hospital Ramón y Cajal

Suministro de un Microscopio Kinevo 900 con Procart

Suministro de un microscopio para ensayos magneto-mecánicos sobre sistemas celulares

Equipamiento Centros Educativos (material didáctico) VENTUS Ciencia Experimental, s.l.