Suministro e instalación de un Microscopio de haz doble (Dual Beam o Cross Beam) con cañón de emisión de campo para la sustitución y actualización del Microscopio de Barrido Quanta 200 de la División de Microscopía Electrónica de la Universidad de Cádiz

Calificaciones técnicas

• Trabajos realizados - Relación de los principales suministros efectuados, del mismo tipo o naturaleza al que corresponde el objeto del contrato, como máximo de los tres últimos años, indicando su importe, fechas y destinatario público o privado de los mismos. Los suministros efectuados se acreditarán mediante certificados expedidos o visados por el órgano competente, cuando el destinatario sea una entidad del sector público o cuando el destinatario sea un comprador privado, mediante un certificado expedido por éste o, a falta de este certificado, mediante una declaración del empresario. A efectos de determinar la correspondencia entre los suministros acreditados y los que constituyen el objeto del contrato, se atenderá a la coincidencia entre los tres primeros dígitos de sus respectivos códigos CPV.El requisito mínimo será que el importe anual acumulado en el año de mayor ejecución sea igual o superior al 70% del valor estimado del contrato.

Calificaciones financieras

• Cifra anual de negocio - Volumen anual de negocios de los tres últimos concluidos, que referido al año de mayor volumen de negocio, alcance al menos el porcentaje mínimo del 100% sobre el importe del lote al que licite o sobre la suma de ellos, en caso de licitar a más de uno.

Calificaciones específicas

• No prohibición para contratar
• Para las empresas extranjeras, declaración de sometimiento a la legislación española.
• Cumplimiento con las obligaciones tributarias
• Capacidad de obrar
• No estar incurso en incompatibilidades
• Cumplimiento con las obligaciones con la Seguridad Social

Garantías financieras

• Final - x5

Términos de adjudicación

• Posibilidad de visualización de la muestra en modo STEM mientras se adelgaza, para un mayor control del proceso de adelgazamiento hasta electrón-transparencia.: 3%
• Posibilidad de observar en modo STEM de alta resolución las lamelas adelgazadas y pulidas sin necesidad de ventilar la cámara. Detallado en apartado J del REsumen de Características: 2%
• Sectorización de los detectores retirables de electrones retrodispersos y de STEM para ampliar los métodos para generar contraste en las imágenes registradas con dichos detectores: 2%
• Microscopio equipado con baterías de soporte para las bombas iónicas del cañón FEG para facilitar la rápida recuperación de la emisión tras cortes de potencia en la red.: 2%
• Inclusión en la oferta de criostato en cámara de muestra para la realización de preparaciones FIB, estudios de tomografía FIB y de CL a 77K (en relación con el apartado 23 del PPT).: 12%
• Posibilidad de registrar imágenes SEM y STEM en tiempo real durante la etapa de pulido final (end pointing) de las muestras. Mayor detalle en apartado J del Resumen de Caracterísitcas.: 3%
• Emisión garantizada del cañón FEG por dos años tras todas las sustituciones de este elemento fungible. Detallado en el Resumen de Características del Contrato, apartado J: 12%
• Rango de movimientos motorizados de la pletina y capacidad de muestras. Detalle en el apartado J del Resumen de Características.: 1%
• Integración del software de control del nanomanipulador en el software de control del microscopio para facilitar el uso del equipamiento en la preparación de muestras electrón-transparentes.: 5%
• Estabilidad de la corriente del haz FEG mejor que 0.5%/10h para aplicaciones que requieran tiempos largos de toma de datos, como análisis de superficies amplias, 3D EDX o 3D EBSD.: 3%
• Inclusión en la oferta de una plataforma de aislamiento activo de vibraciones para el microscopio.Detallado en el Resumen de Características del Contrato, apartado J: 1%
• Control automatizado, por software, de eliminación de deriva durante el fresado para mejorar la generación de patrones de fresado, en particular sobre materiales aislantes: 3%
• Haz de iones colimado con densidad de corriente de al menos 35 A/cm2 a 30 kV y 1nA, para eliminar material de forma eficiente durante el pulido por iones.: 3%
• Ampliación del período de garantía.Detallado en el Resumen de Características del Contrato, apartado J: 8%
• Corriente del haz de electrones superior a 100 nA, para mejora en estudios de CL. Quedan dos criterios más de juicio de valor. Mayor detalle apdo. J Resumen Caracteristicas: 2%
• Nanomanipulador montado en puerto del microscopio y de entrada motorizada, no neumática, para aumentar la estabilidad del nanomanipulador. Detalle en apartado J Resumen Caracteristicas.: 3%
• Grado de automatización del procedimiento de generación de lamelas, mediante software integrado en el de control del microscopio. Detalle en el Apartado J del Resumen de Características: 12%
• Formación específica en técnica EBSD. Detallado en el Resumen de Características del Contrato, apartado J: 2%
• Sistema de soldado de la lamela a la rejilla TEM mediante redeposición del material de la rejilla, sin necesidad de insertar inyector de gases. Detalle en aparatado J del Resumen de Caracteristicas.: 3%
• Precio. Detallado en el Resumen de Características del Contrato, apartado J: 15%